仪器名称：光谱椭偏仪

英文名称：

所属单位：西南交通大学分析测试中心

原值：46.000000万元

产地国别：美国

启用日期：2019-06-10 00:00:00

主要技术指标：1. n（折射率）,k（消光系数）值的测试 2. 测试膜厚 常规椭偏仪的光谱测试范围370到1000纳米。 膜厚的测试范围是0.5纳米-10微米。

主要功能：可工作于从紫外至近红外的宽广光谱区，波长连续可调，仪器主体采用高强度钢铝材料架构，入射角度从20度到90度内由电脑控制自动连续可调。主要适用于科研院所的信息光电子功能薄膜、体材料的光学性质和结构特性研究，可被研究材料种类包括：元素和化合物半导体、绝缘体、超导体、磁性和磁光材料、有机材料、太阳能薄膜、多层薄膜材料、液体材料等。

操作流程/视频：

样品前处理注意事项：

预约信息：状态（正常）

主要学科领域：材料科学,物理学

运行状态：正常

参考收费标准：面议

安放地址：四川-成都-金牛区成都市金牛区二环路北一段111号